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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作SH/T 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計(jì)法)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計(jì)法)
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
大連分析儀器廠
1標(biāo)準(zhǔn)操作SH/T 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
大連分析儀器廠
HV-THz-neaSNOM德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢,采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì),完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí),由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源(thz-tds),也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測量。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
THz-NeaSNOM太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
EVO 10ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT800SHL日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時(shí)將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成,而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
i-Wafer德國KSI 型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
i-IngotKSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測時(shí)間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Nano型KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
V-duo德國KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Crossbeam 350,Crossbeam 550德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:
2025-12-17
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報(bào)告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-7900F日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時(shí)間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
米頓羅攪拌機(jī),米頓羅HELISEM攪拌機(jī)
helisem攪拌機(jī)是在原米頓羅攪拌機(jī)的基礎(chǔ)上,拓展開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)攪拌機(jī)系列。其適用于溶液混合,固體懸浮,混凝等工藝過程,在水處理,精細(xì)化 工和終端產(chǎn)品等行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
廣州晉合水處理設(shè)備有限公司
SNE-4500韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
元豐技術(shù)(東莞)有限公司
SNE-3000MS韓國SEC掃描電子顯微鏡采購價(jià)格
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
元豐技術(shù)(東莞)有限公司
SNE-4500韓國賽可臺式掃描電鏡4500
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
元豐技術(shù)(東莞)有限公司
SNE-3000MS韓國SEC掃描電子顯微鏡
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
元豐技術(shù)(東莞)有限公司
Lightsheet 7Lightsheet 7 蔡司光切激光片層掃描顯微鏡
蔡司lightsheet 7激光片層掃描顯微系統(tǒng),助您便捷地實(shí)現(xiàn)活體和透明化樣品的多視角成像。設(shè)計(jì)的物鏡能夠匹配透明化樣品的折射率,從厘米大尺寸的樣品,到多維時(shí)空的活體成像,無論是觀察長達(dá)數(shù)天的生物發(fā)育過程,還是捕捉快速運(yùn)動的血流心跳,都能助您游刃有余完成。無需頻繁更換物鏡和樣品倉,提升效率,在簡單調(diào)焦中實(shí)現(xiàn)理想光切。無需再為制備樣品而煩惱,操作簡便。
更新時(shí)間:
2025-12-17
該公司產(chǎn)品分類:
卡爾蔡司(上海)管理有限公司
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:
2025-12-16
該公司產(chǎn)品分類:
上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
SEM掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:
2025-12-16
該公司產(chǎn)品分類:
上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
DM401/DM401 Pro/DM402 ProTOMLOV HDMI 顯微鏡 DM401/DM401 Pro/DM402 Pro 2K/4K 高清 1200X 放大 7 寸 IPS 屏 雙 LED 光源 自動對焦 電子維修 PCB 焊接珠寶鑒定
tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng),讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求,是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實(shí)用工具。
更新時(shí)間:
2025-12-15
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
蔡司電腦斷層掃描測量機(jī)2022動態(tài)已更新《采購/推薦》
蔡司電腦斷層掃描測量機(jī)-多探頭測量機(jī)設(shè)備;工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描(ct)為您提供了quanxin的洞見,讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū),并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進(jìn)行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時(shí)間:
2025-12-15
該公司產(chǎn)品分類:
北京首豐聯(lián)合測量設(shè)備有限公司
Phenom G6 pureFEI臺式掃描電鏡Phenom飛納 標(biāo)準(zhǔn)版
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn),適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom proFEI臺式掃描電鏡飛納(Phenom) 業(yè)版
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom proX飛納(Phenom)臺式掃描電鏡 能譜版
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡Phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
phenom 飛納煙草紙張領(lǐng)域掃描電子顯微鏡
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom purePhenom臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
放大倍數(shù):20000x;分辨率:優(yōu)于30nm;燈絲:1500小時(shí)ceb6燈絲抽真空時(shí)間:10;樣品移動方式:自動馬達(dá)樣品臺樣品定位方式:光學(xué)和低倍電子雙重導(dǎo)航樣品導(dǎo)電性要求:無需噴金,直接觀測絕緣體
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom ProX飛納臺式掃描電鏡
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
升版 Phenom ProX飛納臺式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
ProX 電鏡能譜一體機(jī)飛納臺式掃描電鏡 Phenom ProX
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom Pro飛納臺式掃描電子顯微鏡業(yè)版Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom Pure飛納臺式掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)版Pure
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)?;诟吡炼?ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng),phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm,同時(shí)具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Pro飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大,輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能,結(jié) 合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件,phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時(shí)間:
2025-12-12
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
高分辨率業(yè)版 Pro飛納臺式掃描電鏡Phenom Pro
飛納掃描電鏡是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:
2025-12-12
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Phenom XL飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL
全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握新信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像,平均成像時(shí)間僅為 40 ,比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。利設(shè)計(jì)的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全快的放氣/裝載速度,并獲得大的樣品吞吐效率。
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2025-12-12
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Phenom XL G3飛納臺式大倉室自動化掃描電鏡
荷蘭飛納公司隆重推出第三代飛納臺式大倉室自動化掃描電鏡 phenom xl g3
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2025-12-12
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ProX飛納臺式掃描電鏡電鏡能譜一體機(jī)
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了全新一代操作系統(tǒng),通過改進(jìn)光路設(shè)計(jì),將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進(jìn)一步升,易于操作,元素分析更快速。
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高分辨率業(yè)版 Phenom Pro第七代飛納臺式掃描電鏡 Phenom Pro|高分辨率專業(yè)版
phenom pro 是飛納(phenom)第七代高分辨率臺式掃描電鏡,采用一代 高亮度 ceb? 燈絲 與優(yōu)化的電子光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn) 優(yōu)于 6 nm 分辨率,最高放大 350,000×, 輕松完成納米級與亞微米級材料的微觀形貌觀察。相比上一代產(chǎn)品,分辨率提升約 20%,新增 實(shí)時(shí) bse/se 混合圖像(mix) 功能,為科研與工業(yè)檢測帶來更高效率與更精確的微觀分析體驗(yàn)。
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2025-12-12
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