特點(diǎn) ＊ 聲譽(yù)卓著的pam-2100的升級版? ＊ 精巧、、迅速、操作簡便的光合作用檢測設(shè)備? ＊ 利用強(qiáng)大的umpc電腦進(jìn)行操作，基于windows操作系統(tǒng)，界面友好? ＊ 利用超強(qiáng)發(fā)光二極管（led）提供光化光和飽和脈沖，不再使用散熱量大的鹵素?zé)? ＊ 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)收集、分析和存貯功能? ＊ 內(nèi)置鋰電池可滿足長時間野外工作需要，并可連接外置12 v電池? ＊ 多種葉夾可供選擇，設(shè)計(jì)的光適應(yīng)葉夾2030-b可同時記錄par和溫度變化? ＊ 60 g硬盤，無限量存儲

產(chǎn)品簡介：tf200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。tf200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。